《Ieee Design & Test》杂志目前处于几区？
来源：优发表网整理 2024-09-18 11:08:10 206人看过
《Ieee Design & Test》杂志在中科院分区中的情况如下：大类学科：工程技术， 分区：4区； 小类学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件， 分区：4区。
中科院分区决定了SCI期刊在学术界的地位和影响力，对科研人员和学术机构具有重要的参考价值，具体如下：
对SCI期刊的评价：中科院分区通过将SCI期刊按照3年平均影响因子划分为不同的等级，为科研人员和学术机构提供了一个评估SCI期刊学术影响力的重要依据。分区越高，说明该期刊在学科内的学术影响力越大，发表的文章质量越高。
对科研人员的成果评估：科研人员发表的论文所在的中科院分区，可以作为评估其研究成果质量的一个指标。
对科研资源的分配：中科院分区在科研资源分配方面也起到重要作用。科研机构在制定科研政策、分配科研资源时，会参考中科院分区。
对科研人员投稿的指导：中科院分区为科研人员选择投稿期刊提供了参考。科研人员在选择投稿期刊时，会参考中科院分区，以提高论文被接受的可能性，并增加研究成果的影响力。
《Ieee Design & Test》杂志是一本专注于计算机：硬件领域的国际期刊，由IEEE Computer Society 出版，创刊于2013年，出版周期为6 issues/year。
《IEEE 设计与测试》提供原创作品，介绍用于设计和测试微电子系统（从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件）的模型、方法和工具。该杂志侧重于当前和近期的实践，包括教程、操作方法文章和真实案例研究。该杂志力求通过专栏、访谈和圆桌讨论，向读者介绍重要的技术进步以及技术领导者的观点。主题包括半导体 IC 设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和产量设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。
《Ieee Design & Test》杂志学术影响力具体如下：
在学术影响力方面，IF影响因子为1.9，显示出其在计算机：硬件学领域的学术影响力和认可度。
JCR分区：Q3
按JIF指标学科分区，在学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中为Q3，排名：42 / 59，百分位：29.7%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中为Q3，排名：211 / 352，百分位：40.2%；
按JCI指标学科分区，在学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中为Q3，排名：40 / 59，百分位：33.05%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中为Q3，排名：217 / 354，百分位：38.84%；
《Ieee Design & Test》杂志的审稿周期预计为：平均审稿速度 ，投稿需满足English撰写，期刊注重原创性与学术严谨性，明确拒绝抄袭或一稿多投，Gold OA占比：6.08%，这使得更多的研究人员能够免费获取和引用这些高质量的研究成果。
该杂志其他关键数据：
CiteScore分区（数据版本：2024年最新版）：3.8，进一步证明了其学术贡献和影响力。
H指数：72，年发文量：59篇
CiteScore分区（数据版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||
| 3.8 | 0.489 | 0.757 |
|
名词解释：
CiteScore：衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。
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