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Microelectronics International SCIE

Microelectronics International

  • ISSN:1356-5362
  • ESSN:1758-812X
  • 国际标准简称:MICROELECTRON INT
  • 出版地区:ENGLAND
  • 出版周期:Tri-annual
  • 研究方向:工程技术 - 材料科学:综合
  • 出版年份:1982
  • 语言:English
  • 是否OA:混合
  • 学科领域

    工程技术
  • 中科院分区

    4区
  • JCR分区

    Q4
  • IF影响因子

    0.7
  • 是否预警

期刊简介

Journal Title:Microelectronics International

Microelectronics International provides an authoritative, international and independent forum for the critical evaluation and dissemination of research and development, applications, processes and current practices relating to advanced packaging, micro-circuit engineering, interconnection, semiconductor technology and systems engineering. It represents a current, comprehensive and practical information tool. The Editor, Dr John Atkinson, welcomes contributions to the journal including technical papers, research papers, case studies and review papers for publication. Please view the Author Guidelines for further details.

Microelectronics International comprises a multi-disciplinary study of the key technologies and related issues associated with the design, manufacture, assembly and various applications of miniaturized electronic devices and advanced packages. Among the broad range of topics covered are:

• Advanced packaging

• Ceramics

• Chip attachment

• Chip on board (COB)

• Chip scale packaging

• Flexible substrates

• MEMS

• Micro-circuit technology

• Microelectronic materials

• Multichip modules (MCMs)

• Organic/polymer electronics

• Printed electronics

• Semiconductor technology

• Solid state sensors

• Thermal management

• Thick/thin film technology

• Wafer scale processing.

中文简介

《微电子国际》为批判性评估和传播与先进封装、微电路工程、互连、半导体技术和系统工程相关的研发、应用、工艺和现行实践提供了一个权威、国际和独立的论坛。它代表了一种最新、全面和实用的信息工具。编辑约翰·阿特金森博士欢迎为该期刊投稿,包括技术论文、研究论文、案例研究和评论论文。请参阅作者指南了解更多详情。

《微电子国际》是一项多学科研究,研究与小型电子设备和先进封装的设计、制造、组装和各种应用相关的关键技术和相关问题。所涵盖的主题范围广泛,包括:

• 先进封装

• 陶瓷

• 芯片附件

• 板上芯片 (COB)

• 芯片级封装

• 柔性基板

• MEMS

• 微电路技术

• 微电子材料

• 多芯片模块 (MCM)

• 有机/聚合物电子器件

• 印刷电子器件

• 半导体技术

• 固态传感器

• 热管理

• 厚膜/薄膜技术

• 晶圆级加工。

期刊点评

Microelectronics International创刊于1982年,由Emerald Group Publishing Ltd.出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 材料科学:综合全领域,此期刊水平偏中等偏靠后,在所属细分领域中专业影响力一般,过审相对较易,如果您文章质量佳,选择此期刊,发表机率较高。平均审稿速度 12周,或约稿 ,影响因子指数0.7,该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。

中科院分区(数据版本:2023年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 4区 4区

名词解释:
中科院分区也叫中科院JCR分区,基础版分为13个大类学科,然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区,影响因子5%为1区,6%-20%为2区,21%-50%为3区,其余为4区。

中科院分区(数据版本:2022年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 4区 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月基础版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 4区 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 4区 4区

中科院分区(数据版本:2020年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 4区 4区

WOS分区(数据版本:2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 308 / 352

12.6%

学科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q4 399 / 438

9%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 314 / 354

11.44%

学科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q4 383 / 438

12.67%

名词解释:
WOS即Web of Science,是全球获取学术信息的重要数据库,Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息,来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分,根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影响因子值高的就会在高分区中,最后的划分结果分别是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表质量最高。

CiteScore分区(数据版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
1.9 0.188 0.354
学科 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 511 / 797

35%

大类:Engineering 小类:Surfaces, Coatings and Films Q3 90 / 132

31%

大类:Engineering 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q3 201 / 284

29%

大类:Engineering 小类:Condensed Matter Physics Q3 308 / 434

29%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 163 / 224

27%

名词解释:
CiteScore:衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。

其他数据

是否OA开放访问: h-index: 年文章数:
混合 19 30
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): 开源占比(OA被引用占比):
1.10% 0.7 0.02...
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) 期刊收录: 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单:
100.00% SCIE

历年IF值(影响因子):

历年引文指标和发文量:

历年中科院JCR大类分区数据:

历年自引数据:

发文统计

2023-2024国家/地区发文量统计:

国家/地区 数量
Poland 24
Malaysia 19
CHINA MAINLAND 12
India 9
GERMANY (FED REP GER) 4
Iran 4
Argentina 2
England 2
France 2
Singapore 2

2023-2024机构发文量统计:

机构 数量
UNIVERSITI SAINS MALAYSIA 9
SILESIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOG... 5
UNIVERSITI KEBANGSAAN MALAYSIA 5
WROCLAW UNIVERSITY OF SCIENCE & ... 5
WARSAW UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 4
AGH UNIVERSITY OF SCIENCE & TECH... 3
HELIOENERGIA SP ZOO 3
POLISH ACADEMY OF SCIENCES 3
UNIVERSITI MALAYA 3
ABRAXAS OLGIERD JEREMIASZ 2

近年引用统计:

期刊名称 数量
MICROELECTRON RELIAB 25
APPL PHYS LETT 22
MICROELECTRON INT 19
ECS J SOLID STATE SC 17
J APPL PHYS 17
SENSOR ACTUAT B-CHEM 15
BIOSENS BIOELECTRON 14
IEEE T COMP PACK MAN 13
J ELECTRON MATER 12
THIN SOLID FILMS 11

近年被引用统计:

期刊名称 数量
MICROELECTRON INT 19
J MATER SCI-MATER EL 12
IEEE T COMP PACK MAN 9
INT J NUMER METHOD H 9
SENSORS-BASEL 8
MICROELECTRON RELIAB 6
APPL SCI-BASEL 5
J ALLOY COMPD 5
ENERGIES 4
MATERIALS 4

近年文章引用统计:

文章名称 数量
High voltage applications of low... 7
Perspective of zinc oxide based ... 4
Electrical properties of Pb[Zr0.... 4
Design of microfluidic experimen... 3
Finite element model updating of... 3
Study of lamination quality of s... 2
Impact of process parameters on ... 2
Performance of Cu-Al2O3 thin fil... 2
Development of a current mirror-... 1
Aging effect in dye-sensitized s... 1

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Journal Of Environmental Chemical Engineering 7.4 2区
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International Journal Of Hydrogen Energy 8.1 2区
Aerospace 2.1 3区
Electronics 2.6 3区
Shock Waves 1.7 4区
Buildings 3.1 3区

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