Journal Of Electronic Imaging

  • ISSN:1017-9909
  • ESSN:1560-229X
  • 国际标准简称:J ELECTRON IMAGING
  • 出版地区:UNITED STATES
  • 出版周期:Quarterly
  • 研究方向:工程技术 - 成像科学与照相技术
  • 出版年份:1992
  • 语言:English
  • 是否OA:未开放
  • 学科领域

    计算机科学
  • 中科院分区

    4区
  • JCR分区

    Q4
  • IF影响因子

    1
  • 是否预警

期刊简介

Journal Title:Journal Of Electronic Imaging

The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

中文简介

《电子成像杂志》发表电子成像领域所有技术领域的同行评审论文,这些论文通常涉及电子成像系统的设计、工程和应用。

期刊点评

Journal Of Electronic Imaging创刊于1992年,由SPIE出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 成像科学与照相技术全领域,此期刊水平偏中等偏靠后,在所属细分领域中专业影响力一般,过审相对较易,如果您文章质量佳,选择此期刊,发表机率较高。平均审稿速度 约4.0个月 ,影响因子指数1,该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。

中科院分区(数据版本:2023年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

名词解释:
中科院分区也叫中科院JCR分区,基础版分为13个大类学科,然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区,影响因子5%为1区,6%-20%为2区,21%-50%为3区,其余为4区。

中科院分区(数据版本:2022年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月基础版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

中科院分区(数据版本:2020年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

WOS分区(数据版本:2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

名词解释:
WOS即Web of Science,是全球获取学术信息的重要数据库,Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息,来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分,根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影响因子值高的就会在高分区中,最后的划分结果分别是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表质量最高。

CiteScore分区(数据版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
1.7 0.264 0.357
学科 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

名词解释:
CiteScore:衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。

其他数据

是否OA开放访问: h-index: 年文章数:
未开放 60 316
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): 开源占比(OA被引用占比):
3.76% 1 0.03...
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) 期刊收录: 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单:
98.10% SCIE

历年IF值(影响因子):

Created with Highcharts 4.2.6IF值(影响因子)0.6160.7540.780.9240.8840.9450.8291.11IF值(影响因子)2015年2016年2017年2018年2019年2020年2021年2022年2023年0.50.60.70.80.911.11.2

历年引文指标和发文量:

Created with Highcharts 4.2.6引文指标发文量引文指标发文量2014年2015年2016年2017年2018年2019年2020年2021年2022年2023年010020030040000.10.20.30.4

发文统计

近年引用统计:

期刊名称 数量
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73

近年被引用统计:

期刊名称 数量
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26

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