《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志好发表吗？
来源：优发表网整理 2024-09-18 11:00:12 185人看过
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志是一本专注于工程技术领域的期刊，发表难度因多种因素而异，以下是具体分析：
《电子测试：理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试：理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审，以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料，并通过其快速的出版周期，努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料，但需要更广泛曝光的优秀会议论文，只要符合该杂志的同行评审标准，编辑也会酌情发表。 《电子测试：理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章，以促进对最新技术的更好理解。
《电子测试：理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题：
VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试；
模拟和数字电子电路的测试；
微处理器、存储器和信号处理设备的测试；
故障建模；
测试生成；
故障模拟；
可测试性分析；
可测试性设计；
可测试性综合；
内置自测试；
测试规范；
容错；
形式验证硬件；
验证模拟；
设计调试；
测试和诊断的人工智能方法和专家系统；
自动测试设备（ATE）；
测试夹具；
电子束测试系统；
测试编程；
测试数据分析；
测试经济性；
质量和可靠性；
CAD 工具；
晶圆级集成器件测试；
可靠系统测试；
制造良率和良率改进设计；
故障模式分析和工艺改进
发表难度
影响因子与分区：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志的影响因子为1.1，属于JCR分区Q4区，中科院分区中大类学科工程技术为4区， 小类学科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气为4区，较高的影响因子和较好的分区表明其在学术界具有较高的影响力和认可度，因此对稿件的质量要求也相对较高，发表难度较大。
历年IF值(影响因子)：
WOS分区（数据版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37% |
名词解释：
WOS即Web of Science，是全球获取学术信息的重要数据库，Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息，来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分，根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影响因子值高的就会在高分区中，最后的划分结果分别是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表质量最高。
审稿周期预计：平均审稿速度 较慢,6-12周 ，审稿周期也体现了编辑部对稿件质量的严格把关。
发表建议
提高稿件质量：确保研究内容具有创新性和学术价值，语言表达清晰准确，符合杂志工程：电子与电气的格式和要求。
提前准备：根据审稿周期，建议作者提前规划好研究和写作进度，以便有足够的时间进行修改和补充。同时，可以关注《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志的约稿信息，如果能够获得约稿机会，发表的可能性会更大。
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