《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》投稿后多久回复？
来源：优发表网整理 2024-09-18 11:00:12 163人看过
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志投稿后多久回复取决于杂志审稿速度：预计 较慢,6-12周 。投稿前请仔细阅读相关投稿须知，有任何疑问可以联系杂志社或咨询在线客服。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志于1990年创刊，刊号为ISSN：0923-8174，EISSN：1573-0727，是一本专注于工程：电子与电气 - 工程技术领域的SCI期刊，出版周期为：Bimonthly，目前未开放OA（未开放访问）。主要发表由专家撰写的简短且易于理解的文章，内容精炼且具有较高的学术价值，特别适合那些希望快速了解某一特定研究方向最新进展的读者。
《电子测试：理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试：理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审，以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料，并通过其快速的出版周期，努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料，但需要更广泛曝光的优秀会议论文，只要符合该杂志的同行评审标准，编辑也会酌情发表。 《电子测试：理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章，以促进对最新技术的更好理解。
《电子测试：理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题：
VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试；
模拟和数字电子电路的测试；
微处理器、存储器和信号处理设备的测试；
故障建模；
测试生成；
故障模拟；
可测试性分析；
可测试性设计；
可测试性综合；
内置自测试；
测试规范；
容错；
形式验证硬件；
验证模拟；
设计调试；
测试和诊断的人工智能方法和专家系统；
自动测试设备（ATE）；
测试夹具；
电子束测试系统；
测试编程；
测试数据分析；
测试经济性；
质量和可靠性；
CAD 工具；
晶圆级集成器件测试；
可靠系统测试；
制造良率和良率改进设计；
故障模式分析和工艺改进
在收录情况方面，《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志在中科院最新升级版分区表中，该杂志分区信息为大类学科工程技术4区，影响因子为1.1，CiteScore为2，在工程：电子与电气 - 工程技术领域的排名较为靠前，其 SJR为 0.271，SNIP为0.518，h-index指数为31，这些数据都反映出期刊在学术界具有较高的影响力和学术价值。
投稿SCI期刊后收到回复的时间因多种因素而异，具体时间如下：
初审阶段：编辑初审通常在1-4周内完成，主要检查论文的格式、规范性以及是否符合期刊的基本要求。
同行评审阶段：若论文通过初审，编辑会将其发送给多位同行评审人进行详细评估。这一阶段是整个审稿过程中最耗时的部分，通常需要1-3个月。
终审阶段：编辑在得到审稿人的反馈后，会根据审稿人的意见给出接收、小修、大修、拒稿等结果。这一阶段的时间相对较短，通常在收到审稿意见后几天到一周内完成。
投稿者在选择期刊时，应考虑到审稿周期，并做好长期等待的准备，同时也要注意不同期刊的具体要求和效率可能大相径庭。
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