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《Sensor Review》杂志影响录用的因素有哪些?

来源:优发表网整理 2024-09-18 10:49:44 394人看过

《Sensor Review》杂志是一本专注于工程技术领域的高质量期刊,该杂志的录用率受多种因素影响,想具体了解可联系杂志社或咨询在线客服

《Sensor Review》杂志的录用率受多种因素影响,具体如下:

年发文量:《Sensor Review》杂志年发文量为:31篇。年发文量较大的期刊,相对而言录用率会高一些。

质量与创新性:论文的科学性、严谨性、数据可靠性以及创新性是关键。

期刊分区:《Sensor Review》杂志在中科院的分区为4区,而在JCR的分区为Q3。

论文质量:包括研究设计的合理性、数据的可靠性、分析方法的科学性等。

影响力与排名:《Sensor Review》杂志IF影响因子为:1.6。高影响力的期刊通常对论文质量要求更高,录用率相对较低。

审稿流程:严格的多轮审稿流程会筛选掉部分稿件,导致录用率下降。

投稿数量:在特定时期内,若大量研究者集中向某期刊投稿,会导致稿件堆积,录用率下降。

SCI期刊的录用率受多重因素影响,作者应根据自身研究特点选择合适的期刊,并确保稿件质量以提高录用机会,投稿前务必仔细阅读期刊的投稿指南,并与杂志社保持良好沟通。

《Sensor Review》杂志简介

中文简称:传感器回顾
国际标准简称:SENSOR REV
出版商:Emerald Group Publishing Ltd.
出版周期:Quarterly
出版年份:1981年
出版地区:ENGLAND
ISSN:0260-2288
ESSN:1758-6828
研究方向:仪器仪表 - 工程技术

《传感器评论》发表同行评审的最新文章和特别委托的技术评论。这本多学科期刊的每一期都包含高质量的原创内容,涵盖传感器及其应用的各个方面,并反映了世界各地最有趣和具有战略意义的研究和开发活动。正因为如此,读者可以站在高科技传感器发展的最前沿。

重点放在详细的独立定期和评论文章上,确定目前可用于特定应用的所有传感器,并强调那些显示出未来巨大潜力的技术领域。该期刊鼓励作者考虑其文章的实际和社会影响。

所有文章都经过严格的双盲同行评审过程,其中包括对文章是否适合该期刊进行初步评估,然后将其发送给该领域至少两名审稿人(如果认为合适)。

Sensor Review 的覆盖范围包括但不限于:

机械传感器 - 位置、位移、接近度、速度、加速度、振动、力、扭矩、压力和流量传感器

电和磁传感器 - 电阻、电感、电容、压电、涡流、电磁、光电和热电传感器

温度传感器、红外传感器、湿度传感器

光学、电光和光纤传感器及系统、光子传感器

生物传感器、可穿戴和植入式传感器及系统、免疫传感器

气体和化学传感器及系统、聚合物传感器

声学和超声波传感器

触觉传感器和设备

智能传感器和系统

纳米传感器、NEMS、MEMS 和 BioMEMS

量子传感器

传感器系统:传感器数据融合、信号、处理和接口、信号调节。

在中科院分区表中,大类学科为工程技术4区, 小类学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION仪器仪表4区。

中科院分区(数据版本:2023年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

名词解释:
中科院分区也叫中科院JCR分区,基础版分为13个大类学科,然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区,影响因子5%为1区,6%-20%为2区,21%-50%为3区,其余为4区。

中科院分区(数据版本:2022年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月基础版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

中科院分区(数据版本:2021年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

中科院分区(数据版本:2020年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

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期刊收录: SCIE

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