Journal Title：Scanning
Scanning provides an international and interdisciplinary medium for the rapid exchange of information among all scientists interested in scanning electron, scanning probe, and scanning optical microscopies. Areas of specific interest include all aspects of the instrumentation associated with scanning microscopies, correlative microscopy techniques, stereometry, stereology, analytic techniques, and novel applications of the microscopies.
扫描为所有对扫描电子、扫描探针和扫描光学显微镜感兴趣的科学家提供了一种国际性和跨学科的快速信息交换媒介。具体感兴趣的领域包括与扫描显微镜相关的仪器的所有方面、相关显微镜技术、立体测量、立体学、分析技术和显微镜的新应用。
Scanning创刊于1978年，由Hindawi Limited出版商出版，收稿方向涵盖工程技术 - 显微镜技术全领域，此期刊水平偏中等偏靠后，在所属细分领域中专业影响力一般，过审相对较易，如果您文章质量佳，选择此期刊，发表机率较高。平均审稿速度 较慢,6-12周 ，该期刊近期被列入国际期刊预警名单，请广大学者慎重选择。
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 | 否 | 否 |
名词解释：
中科院分区也叫中科院JCR分区，基础版分为13个大类学科，然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区，影响因子5%为1区，6%-20%为2区，21%-50%为3区，其余为4区。
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 | 否 | 否 |
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 | 否 | 否 |
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 | 否 | 否 |
| 大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
| 工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 MICROSCOPY 显微镜技术 | 4区 4区 | 否 | 否 |
| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
名词解释：
WOS即Web of Science，是全球获取学术信息的重要数据库，Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息，来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分，根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影响因子值高的就会在高分区中，最后的划分结果分别是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表质量最高。
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||
| 4.4 | 0.471 | 0.832 |
|
名词解释：
CiteScore：衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。
| 是否OA开放访问： | h-index： | 年文章数： |
| 开放 | 43 | 0 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影响因子（数据来源于搜索引擎）: | 开源占比（OA被引用占比）： |
| 100.00% | 0 | 1 |
| 研究类文章占比：文章 ÷（文章 + 综述） | 期刊收录： | 中科院《国际期刊预警名单（试行）》名单： |
| 91.84% | SCIE | 是 |
历年IF值(影响因子)：
历年引文指标和发文量：
历年中科院JCR大类分区数据：
历年自引数据：
2023-2024国家/地区发文量统计：
| 国家/地区 | 数量 |
| CHINA MAINLAND | 67 |
| South Korea | 12 |
| Greece | 8 |
| Japan | 7 |
| Russia | 6 |
| Spain | 6 |
| Italy | 5 |
| Turkey | 5 |
| Brazil | 4 |
| England | 4 |
2023-2024机构发文量统计：
| 机构 | 数量 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 9 |
| JIANGSU UNIVERSITY OF SCIENCE & ... | 6 |
| NATIONAL TECHNICAL UNIVERSITY OF... | 6 |
| JINAN UNIVERSITY | 5 |
| HOHAI UNIVERSITY | 4 |
| SHANDONG FIRST MEDICAL UNIVERSIT... | 4 |
| UNIVERSIDAD PABLO DE OLAVIDE | 4 |
| UNIVERSITY OF MACAU | 4 |
| ATHENS METROPOLITAN COLL | 3 |
| FUJIAN MEDICAL UNIVERSITY | 3 |
近年引用统计：
| 期刊名称 | 数量 |
| J ENDODONT | 32 |
| BIOPHYS J | 18 |
| J PROSTHET DENT | 18 |
| DENT MATER | 15 |
| INT ENDOD J | 14 |
| BMC ORAL HEALTH | 12 |
| ULTRAMICROSCOPY | 12 |
| SCANNING | 11 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 10 |
| J CULT HERIT | 10 |
近年被引用统计：
| 期刊名称 | 数量 |
| SCI REP-UK | 38 |
| MICROSC MICROANAL | 23 |
| J APPL PHYS | 22 |
| MATERIALS | 22 |
| MICRON | 21 |
| ULTRAMICROSCOPY | 19 |
| J ARCHAEOL SCI | 14 |
| APPL SURF SCI | 13 |
| MICROSC RES TECHNIQ | 13 |
| NANOTECHNOLOGY | 13 |
近年文章引用统计：
| 文章名称 | 数量 |
| Biodegradable Magnesium Alloys D... | 18 |
| Combining Intraoral and Face Sca... | 8 |
| Atomic Force Microscopy on Biolo... | 5 |
| Evaluation of Threshold Values f... | 5 |
| Investigation on Composition, Me... | 5 |
| The Effect of EBM Process Parame... | 5 |
| Analysis of Cause of Endodontic ... | 4 |
| AFM and FluidFM Technologies: Re... | 4 |
| Conducting Polymer-Based Cantile... | 4 |
| Detecting the Second Mesiobuccal... | 3 |
| 同小类学科的其他优质期刊 | 影响因子 | 中科院分区 |
| International Journal Of Ventilation | 1.1 | 4区 |
| Journal Of Environmental Chemical Engineering | 7.4 | 2区 |
| Journal Of Energy Storage | 8.9 | 2区 |
| Complexity | 1.7 | 4区 |
| Chemical Engineering Journal | 13.3 | 1区 |
| International Journal Of Hydrogen Energy | 8.1 | 2区 |
| Aerospace | 2.1 | 3区 |
| Electronics | 2.6 | 3区 |
| Shock Waves | 1.7 | 4区 |
| Buildings | 3.1 | 3区 |
若用户需要出版服务，请联系出版商：JOHN WILEY & SONS INC, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030。
