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《Pattern Recognition》杂志的收稿范围和要求是什么?

来源:优发表网整理 2024-09-18 10:51:05 1518人看过

《Pattern Recognition》杂志收稿范围涵盖计算机科学全领域,此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊,在行业细分领域中学术影响力较大,专业度认可很高,所以对原创文章要求创新性较高,如果您的文章质量很高,可以尝试。

平均审稿速度 约4.2个月 约14.9周,影响因子指数7.5。

该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。

具体收稿要求需联系杂志社或者咨询本站客服,在线客服团队会及时为您答疑解惑,提供针对性的建议和解决方案。

出版商联系方式:ELSEVIER SCI LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OXON, OX5 1GB

其他数据

是否OA开放访问: h-index: 年文章数:
未开放 180 785
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): 开源占比(OA被引用占比):
10.02% 7.5 0.05...
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) 期刊收录: 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单:
99.36% SCIE

历年IF值(影响因子):

历年引文指标和发文量:

历年中科院JCR大类分区数据:

历年自引数据:

发文统计

2023-2024国家/地区发文量统计:

国家/地区 数量
CHINA MAINLAND 708
USA 183
Australia 95
England 83
Canada 60
Spain 56
France 54
Italy 42
South Korea 39
India 38

2023-2024机构发文量统计:

机构 数量
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 121
XIDIAN UNIVERSITY 39
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY 30
SUN YAT SEN UNIVERSITY 28
DALIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 27
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE ... 26
SHENZHEN UNIVERSITY 26
BEIHANG UNIVERSITY 25
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 24
SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY 24

近年引用统计:

期刊名称 数量
PATTERN RECOGN 2181
IEEE T PATTERN ANAL 1119
IEEE T IMAGE PROCESS 633
PATTERN RECOGN LETT 339
J MACH LEARN RES 253
INT J COMPUT VISION 231
NEUROCOMPUTING 220
IEEE T NEUR NET LEAR 193
IEEE T KNOWL DATA EN 126
MACH LEARN 118

近年被引用统计:

期刊名称 数量
IEEE ACCESS 2259
PATTERN RECOGN 2181
MULTIMED TOOLS APPL 1047
NEUROCOMPUTING 710
SENSORS-BASEL 552
EXPERT SYST APPL 404
PATTERN RECOGN LETT 396
REMOTE SENS-BASEL 352
INFORM SCIENCES 315
APPL SCI-BASEL 278

近年文章引用统计:

文章名称 数量
Recent advances in convolutional... 325
Deep visual tracking: Review and... 80
Wider or Deeper: Revisiting the ... 70
Wild patterns: Ten years after t... 68
Improving person re-identificati... 61
A comparative evaluation of outl... 57
Automated pulmonary nodule detec... 53
A deep convolutional neural netw... 52
Deep learning for image-based ca... 47
Convolutional Neural Networks an... 46

声明:以上内容来源于互联网公开资料,如有不准确之处,请联系我们进行修改。

约4.2个月 约14.9周审核
期刊收录: SCIE

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