《Microelectronics Reliability》杂志目前处于几区？
来源：优发表网整理 2024-09-18 11:02:32 296人看过
《Microelectronics Reliability》杂志在中科院分区中的情况如下：大类学科：工程技术， 分区：4区； 小类学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气， 分区：4区。
中科院分区决定了SCI期刊在学术界的地位和影响力，对科研人员和学术机构具有重要的参考价值，具体如下：
对SCI期刊的评价：中科院分区通过将SCI期刊按照3年平均影响因子划分为不同的等级，为科研人员和学术机构提供了一个评估SCI期刊学术影响力的重要依据。分区越高，说明该期刊在学科内的学术影响力越大，发表的文章质量越高。
对科研人员的成果评估：科研人员发表的论文所在的中科院分区，可以作为评估其研究成果质量的一个指标。
对科研资源的分配：中科院分区在科研资源分配方面也起到重要作用。科研机构在制定科研政策、分配科研资源时，会参考中科院分区。
对科研人员投稿的指导：中科院分区为科研人员选择投稿期刊提供了参考。科研人员在选择投稿期刊时，会参考中科院分区，以提高论文被接受的可能性，并增加研究成果的影响力。
《Microelectronics Reliability》杂志是一本专注于工程：电子与电气领域的国际期刊，由Elsevier Ltd 出版，创刊于1964年，出版周期为Monthly。
《微电子可靠性》致力于传播微电子设备、电路和系统可靠性的最新研究成果和相关信息，涵盖材料、工艺和制造、设计、测试和操作等各个方面。该期刊涵盖以下主题：测量、理解和分析；评估和预测；建模和仿真；方法和缓解。将可靠性与微电子工程其他重要领域（如设计、制造、集成、测试和现场操作）相结合的论文也将受到欢迎，并且特别鼓励报告该领域和特定应用领域案例研究的实践论文。
大多数被接受的论文将以研究论文的形式发表，描述重大进展和已完成的工作。回顾普遍感兴趣的重要发展主题的论文可能会被接受作为评论论文发表。更初步的紧急通讯和关于当前感兴趣的已完成实践工作的简短报告可能会被考虑作为研究笔记发表。所有投稿均需经过该领域顶尖专家的同行评审。
《Microelectronics Reliability》杂志学术影响力具体如下：
在学术影响力方面，IF影响因子为1.6，显示出其在工程：电子与电气学领域的学术影响力和认可度。
JCR分区：Q3
按JIF指标学科分区，在学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中为Q3，排名：239 / 352，百分位：32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中为Q4，排名：113 / 140，百分位：19.6%；PHYSICS, APPLIED中为Q3，排名：131 / 179，百分位：27.1%；
按JCI指标学科分区，在学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中为Q4，排名：272 / 354，百分位：23.31%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中为Q4，排名：114 / 140，百分位：18.93%；PHYSICS, APPLIED中为Q4，排名：140 / 179，百分位：22.07%；
《Microelectronics Reliability》杂志的审稿周期预计为：平均审稿速度 较快,2-4周 约8.3周，投稿需满足English撰写，期刊注重原创性与学术严谨性，明确拒绝抄袭或一稿多投，Gold OA占比：14.36%，这使得更多的研究人员能够免费获取和引用这些高质量的研究成果。
该杂志其他关键数据：
CiteScore分区（数据版本：2024年最新版）：3.3，进一步证明了其学术贡献和影响力。
H指数：80，年发文量：310篇
CiteScore分区（数据版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 3.3 | 0.394 | 0.801 |
|
名词解释：
CiteScore：衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。
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