Journal Title:Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement
Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.
征集的论文应涉及创新解决方案,以开发和使用电气和电子仪器和设备来测量、监控和/或记录物理现象,从而推动测量科学、方法、功能和应用的发展。这些论文的范围可能包括:(1) 测量的理论、方法和实践;(2) 用于生成、获取、调节和处理信号的仪器和测量系统及组件的设计、开发和评估;(3) 分析、表示、显示和保存从一组测量中获得的信息;(4) 对仪器和测量领域技术标准的建立和维护提供科学和技术支持。
Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement创刊于1952年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 工程:电子与电气全领域,此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊,在行业细分领域中学术影响力较大,专业度认可很高,所以对原创文章要求创新性较高,如果您的文章质量很高,可以尝试。平均审稿速度 约6.8个月 ,影响因子指数5.6,该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 是 | 否 |
名词解释:
中科院分区也叫中科院JCR分区,基础版分为13个大类学科,然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区,影响因子5%为1区,6%-20%为2区,21%-50%为3区,其余为4区。
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 3区 2区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
名词解释:
WOS即Web of Science,是全球获取学术信息的重要数据库,Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息,来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分,根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影响因子值高的就会在高分区中,最后的划分结果分别是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表质量最高。
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||
9 | 1.536 | 1.741 |
|
名词解释:
CiteScore:衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。
是否OA开放访问: | h-index: | 年文章数: |
未开放 | 100 | 2247 |
Gold OA文章占比: | 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): | 开源占比(OA被引用占比): |
6.42% | 5.6 | 0.07... |
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) | 期刊收录: | 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单: |
99.47% | SCIE | 否 |
历年IF值(影响因子):
历年引文指标和发文量:
历年中科院JCR大类分区数据:
历年自引数据:
2023-2024国家/地区发文量统计:
国家/地区 | 数量 |
CHINA MAINLAND | 696 |
Italy | 237 |
USA | 215 |
India | 144 |
England | 101 |
Canada | 92 |
GERMANY (FED REP GER) | 70 |
Spain | 53 |
South Korea | 47 |
Brazil | 38 |
2023-2024机构发文量统计:
机构 | 数量 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... | 85 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 50 |
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 44 |
TSINGHUA UNIVERSITY | 42 |
TIANJIN UNIVERSITY | 40 |
BEIHANG UNIVERSITY | 39 |
UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM | 33 |
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 30 |
SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY | 28 |
SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY | 28 |
近年引用统计:
期刊名称 | 数量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE SENS J | 265 |
IEEE T IND ELECTRON | 205 |
MEAS SCI TECHNOL | 203 |
SENSORS-BASEL | 177 |
IEEE T MICROW THEORY | 174 |
METROLOGIA | 167 |
IEEE T POWER DELIVER | 162 |
MEASUREMENT | 151 |
MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
近年被引用统计:
期刊名称 | 数量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE ACCESS | 940 |
SENSORS-BASEL | 761 |
IEEE SENS J | 555 |
MEASUREMENT | 390 |
ENERGIES | 245 |
APPL SCI-BASEL | 194 |
ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
IEEE T IND ELECTRON | 149 |
MEAS SCI TECHNOL | 149 |
近年文章引用统计:
文章名称 | 数量 |
Automatic Defect Detection of Fa... | 54 |
Intelligent Bearing Fault Diagno... | 53 |
Medical Image Fusion With Parame... | 43 |
Monitoring of Large-Area IoT Sen... | 40 |
Vibration-Based Intelligent Faul... | 34 |
Deep Architecture for High-Speed... | 26 |
Highly Sensitive SPR Biosensor B... | 26 |
RideNN: A New Rider Optimization... | 25 |
An Unsupervised-Learning-Based A... | 21 |
A CNN-Based Defect Inspection Me... | 20 |
同小类学科的其他优质期刊 | 影响因子 | 中科院分区 |
International Journal Of Ventilation | 1.1 | 4区 |
Journal Of Energy Storage | 8.9 | 2区 |
Journal Of Environmental Chemical Engineering | 7.4 | 2区 |
Complexity | 1.7 | 4区 |
Chemical Engineering Journal | 13.3 | 1区 |
International Journal Of Hydrogen Energy | 8.1 | 2区 |
Electronics | 2.6 | 3区 |
Aerospace | 2.1 | 3区 |
Buildings | 3.1 | 3区 |
Shock Waves | 1.7 | 4区 |
若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。