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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

  • ISSN:0018-9456
  • ESSN:1557-9662
  • 国际标准简称:IEEE T INSTRUM MEAS
  • 出版地区:UNITED STATES
  • 出版周期:Bimonthly
  • 研究方向:工程技术 - 工程:电子与电气
  • 出版年份:1952
  • 语言:English
  • 是否OA:未开放
  • 学科领域

    工程技术
  • 中科院分区

    2区
  • JCR分区

    Q1
  • IF影响因子

    5.6
  • 是否预警

期刊简介

Journal Title:Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.

中文简介

征集的论文应涉及创新解决方案,以开发和使用电气和电子仪器和设备来测量、监控和/或记录物理现象,从而推动测量科学、方法、功能和应用的发展。这些论文的范围可能包括:(1) 测量的理论、方法和实践;(2) 用于生成、获取、调节和处理信号的仪器和测量系统及组件的设计、开发和评估;(3) 分析、表示、显示和保存从一组测量中获得的信息;(4) 对仪器和测量领域技术标准的建立和维护提供科学和技术支持。

期刊点评

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement创刊于1952年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 工程:电子与电气全领域,此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊,在行业细分领域中学术影响力较大,专业度认可很高,所以对原创文章要求创新性较高,如果您的文章质量很高,可以尝试。平均审稿速度 约6.8个月 ,影响因子指数5.6,该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。

中科院分区(数据版本:2023年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区

名词解释:
中科院分区也叫中科院JCR分区,基础版分为13个大类学科,然后按照各类期刊影响因子分别将每个类别分为四个区,影响因子5%为1区,6%-20%为2区,21%-50%为3区,其余为4区。

中科院分区(数据版本:2022年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区

中科院分区(数据版本:2021年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区

中科院分区(数据版本:2021年12月基础版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 3区 2区

中科院分区(数据版本:2021年12月升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区

中科院分区(数据版本:2020年12月旧的升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 2区 2区

WOS分区(数据版本:2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%

学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

名词解释:
WOS即Web of Science,是全球获取学术信息的重要数据库,Web of Science包括自然科学、社会科学、艺术与人文领域的信息,来自全世界近9,000种最负盛名的高影响力研究期刊及12,000多种学术会议多学科内容。给期刊分区时会按照某一个学科领域划分,根据这一学科所有按照影响因子数值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影响因子值高的就会在高分区中,最后的划分结果分别是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表质量最高。

CiteScore分区(数据版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
9 1.536 1.741
学科 分区 排名 百分位
大类:Physics and Astronomy 小类:Instrumentation Q1 13 / 141

91%

大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

名词解释:
CiteScore:衡量期刊所发表文献的平均受引用次数。
SJR:SCImago 期刊等级衡量经过加权后的期刊受引用次数。引用次数的加权值由施引期刊的学科领域和声望 (SJR) 决定。
SNIP:每篇文章中来源出版物的标准化影响将实际受引用情况对照期刊所属学科领域中预期的受引用情况进行衡量。

其他数据

是否OA开放访问: h-index: 年文章数:
未开放 100 2247
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): 开源占比(OA被引用占比):
6.42% 5.6 0.07...
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) 期刊收录: 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单:
99.47% SCIE

历年IF值(影响因子):

历年引文指标和发文量:

历年中科院JCR大类分区数据:

历年自引数据:

发文统计

2023-2024国家/地区发文量统计:

国家/地区 数量
CHINA MAINLAND 696
Italy 237
USA 215
India 144
England 101
Canada 92
GERMANY (FED REP GER) 70
Spain 53
South Korea 47
Brazil 38

2023-2024机构发文量统计:

机构 数量
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... 85
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 50
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY 44
TSINGHUA UNIVERSITY 42
TIANJIN UNIVERSITY 40
BEIHANG UNIVERSITY 39
UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM 33
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 30
SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY 28
SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY 28

近年引用统计:

期刊名称 数量
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE SENS J 265
IEEE T IND ELECTRON 205
MEAS SCI TECHNOL 203
SENSORS-BASEL 177
IEEE T MICROW THEORY 174
METROLOGIA 167
IEEE T POWER DELIVER 162
MEASUREMENT 151
MECH SYST SIGNAL PR 132

近年被引用统计:

期刊名称 数量
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE ACCESS 940
SENSORS-BASEL 761
IEEE SENS J 555
MEASUREMENT 390
ENERGIES 245
APPL SCI-BASEL 194
ELECTRONICS-SWITZ 169
IEEE T IND ELECTRON 149
MEAS SCI TECHNOL 149

近年文章引用统计:

文章名称 数量
Automatic Defect Detection of Fa... 54
Intelligent Bearing Fault Diagno... 53
Medical Image Fusion With Parame... 43
Monitoring of Large-Area IoT Sen... 40
Vibration-Based Intelligent Faul... 34
Deep Architecture for High-Speed... 26
Highly Sensitive SPR Biosensor B... 26
RideNN: A New Rider Optimization... 25
An Unsupervised-Learning-Based A... 21
A CNN-Based Defect Inspection Me... 20

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免责声明

若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。