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单晶圆擦洗技术及优化方案的研究

作者:王文丽; 黄鑫亮; 夏楠君; 祝福生; 赵宝君; 王勇威 中国电子科技集团公司第四十五研究所; 北京101601

摘要:本文基于单晶圆擦洗的原理,分析了单晶圆擦洗常见的两种方案的缺点,提出了适合单晶圆擦洗的优化方案。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社。

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