首页 > 期刊 > 电子元器件应用 > 点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响 【正文】

点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响

作者:宋丽军 陈鹤鸣 赵新彦 汪静丽 南京邮电大学光通信研究所 江苏南京210003

摘要:点缺陷构成的微腔对THz波调制器的性能起着决定性的作用,而在实际制作加工过程中,由于工艺的原因,光子晶体的结构参量会产生偏差,难以制备出孔径毫无偏差的光子晶体,且介质柱的放置位置不能达到完全精确,因此光子晶体器件的性能也因此会受到一定程度的影响。文中重点讨论了点缺陷介质柱的半径变化对直接耦合结构的THz波调制器性能的影响,为光子晶体调制器的实际制作和相应的误差分析提供了理论帮助。

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